発表年月日 | 2020/03/03 |
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発表テーマ | 深層学習・機械学習を取り入れた外観検査 |
会議名 | エレクトロニクス実装学会春季講演大会2020 |
主催者 | エレクトロニクス実装学会 |
学会区分 | 全国学会 |
発表形式 | その他 |
単独共同区分 | 共同 |
国名 | 日本 |
発表者・共同発表者 | 永田毅、橋本大樹 |
概要 | 深層学習を利用した外観検査の最新動向と研究成果について報告した。 |
researchmap用URL | https://confit.atlas.jp/guide/event/jiep2020s/top |